BRUKER元素分析儀Tracer III-V+ / III-SD

Tracer III-SD 配備了專有的 X-Flash^® 硅漂移探測(cè)器 (SDD)，該探測(cè)器具備高速的數(shù)據(jù)捕獲、比傳統(tǒng) SiPIN 探測(cè)器更高的分辨率和輕元素敏感性。當(dāng) Tracer III-SD 與可選真空系統(tǒng)一起使用時(shí)，可以實(shí)現(xiàn)超輕元素敏感性。

除了基本儀器，該系統(tǒng)還配有：1) 功能強(qiáng)大、基于臺(tái)式機(jī)的分析軟件，具備實(shí)時(shí)光譜顯示和完整的峰值鑒定；2) 可對(duì)分析儀進(jìn)行精確三維定位的三腳架；及 3) 無(wú)與倫比的應(yīng)用培訓(xùn)和支持。

優(yōu)點(diǎn)一覽

• 臺(tái)式儀器的功能，具備手持裝置的便利性
• 功能強(qiáng)大、基于臺(tái)式機(jī)的分析軟件
• 可定制的過(guò)濾器和次級(jí)目標(biāo)，以優(yōu)化分析結(jié)果
• 實(shí)時(shí)光譜顯示
• 與 NASA 攜手為航天飛機(jī)計(jì)劃開發(fā)的真空技術(shù)
• 標(biāo)準(zhǔn)組件，包括 360^o 三腳架
• 專有的 X-FLASH^® SDD 技術(shù)（僅限 Tracer III-SD 和 IV-SD）
• 無(wú)與倫比的培訓(xùn)和支持