當(dāng)前所在位置: 首頁 > 產(chǎn)品首頁 >分析儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備 >實(shí)驗(yàn)室設(shè)備 >其他實(shí)驗(yàn)室設(shè)備 >ENTEGRIS過程監(jiān)控器SemiChem APMi 200
以耐用、可靠的在線平臺(tái)提供實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量測量。Entegris 是設(shè)計(jì)和生產(chǎn)用于半導(dǎo)體制造工藝中的化學(xué)機(jī)械研磨 (CMP) 漿料和配制清洗劑的高精度分析儀器的市場供應(yīng)者。我們的技術(shù)旨在確保復(fù)雜混合化學(xué)藥劑的準(zhǔn)確一致性,并實(shí)現(xiàn) CMP 和配制清洗工藝的高產(chǎn)率。我們的 SemiChem 高等級(jí)工藝監(jiān)控器(APM)是一種濕化學(xué)監(jiān)控系統(tǒng),可自動(dòng)采樣、分析和報(bào)告關(guān)鍵工藝的定量化學(xué)濃度。完整的在線化學(xué)監(jiān)測可實(shí)時(shí)修正槽液成分,從而穩(wěn)定控制工藝條件。該系統(tǒng)可提供化學(xué)濃度數(shù)據(jù)。當(dāng)變化立即顯現(xiàn)時(shí),可能對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生負(fù)面影響的變化可以迅速得到糾正,從而幫助滿足零缺陷容忍度和更高產(chǎn)品產(chǎn)量的要求。
提供業(yè)界準(zhǔn)確的監(jiān)測,以保持工藝化學(xué)成分和完整性
在產(chǎn)品質(zhì)量下降之前檢測揮發(fā)性化學(xué)物質(zhì)的工藝偏差
將實(shí)驗(yàn)室技術(shù)轉(zhuǎn)化為工藝,實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的工藝控制
平均故障間隔時(shí)間 (MTBF) > 8500 小時(shí)
提供化學(xué)濃度數(shù)據(jù),使?jié){料/化學(xué)品分配系統(tǒng)能夠提供準(zhǔn)確的化學(xué)濃度
多個(gè)采樣點(diǎn)、附加 5 毫升數(shù)字滴定管、附加傳感器、聯(lián)鎖、試劑低濃度檢測
產(chǎn)地:美國
分析方法:電位計(jì)法、標(biāo)準(zhǔn)添加法、光度法
電位計(jì)精度:顯示值的± 0.2
標(biāo)準(zhǔn)添加精度:± 2.0 %示值
電位計(jì)精度:± 0.2 % 相對(duì)誤差
標(biāo)準(zhǔn)添加精度:± 2.0 % 相對(duì)誤差
測量時(shí)間:> 5 分鐘/分析(視應(yīng)用而定)
校準(zhǔn)間隔:啟動(dòng)時(shí)
樣品消耗量:< 5 mL/次分析
樣品量:0.05 至 5 mL(根據(jù)應(yīng)用而定)
樣品溫度:高達(dá) 93 °C (200 °F)
耗水量:< 1000 mL/分析
樣品入口/回流:<207 kPa (30 psi),0.5 L/min;1/4" 外徑擴(kuò)口接頭,1" FPT 密封接頭
去離子水:138 至 276 kPa (20 至 40 psi);2.0 L/min;1/4" 外徑擴(kuò)口接頭
CDA:414 至 552 kPa(60 至 80 psi);1/4 英寸外徑快速接頭
排水口 工藝:3/4 英寸 NPT 重力排水口;櫥柜:1/2 英寸 NPT 重力排水口
電源:110/220 VAC,50/60 Hz,1/0.5 A 現(xiàn)場可切換
排氣:1-7/8" OD @ 17 CFM
用于控制金屬 CMP 濃度、在微電子環(huán)境中的所有濕化學(xué)應(yīng)用中均表現(xiàn)良好,包括:銅、鎢、阻擋層和金屬 CMP、配方清潔、DSP+、濕蝕刻、氮化物蝕刻、PAN 蝕刻、Piranha 蝕刻、高頻、廢水
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