當(dāng)前所在位置: 首頁 > 產(chǎn)品首頁 >檢測(cè)、測(cè)量 、自動(dòng)化、工業(yè)IT >光學(xué)和聲學(xué)測(cè)量 >其他光學(xué)測(cè)量儀器 >ANDOR光伏檢查儀iKon-M
Andor 的 PV Inspector NIR 相機(jī)旨在為在線電致發(fā)光和光致發(fā)光檢測(cè)提供超快的速度和靈敏度性能,在 800 nm 以上提供 > 90% 的 QE,并結(jié)合了邊緣抑制技術(shù),以大限度地減少 NIR 中的邊緣效應(yīng)。1024 x 1024 陣列擁有高分辨率 13 μm 像素,并受益于可忽略不計(jì)的暗電流和低至 -70°C 的熱電冷卻。PV Inspector 通過高達(dá) 5 MHz 的快速讀出速度提供高的吞吐量,并結(jié)合獨(dú)特的“雙曝光環(huán)模式”,允許快速曝光切換??涉i定的 USB 2.0 端口可確保安全的抗震連接。
PV Inspector 增強(qiáng)的 NIR 靈敏度和獨(dú)特的高速模式能夠以超過每秒 1 個(gè)電池的速率進(jìn)行雙重曝光 EL 檢測(cè),非常適合在縱梁和電池分選機(jī)中發(fā)現(xiàn)的高通量 PV 檢測(cè)系統(tǒng)??焖俚碾p曝光成像允許在不同的偏差水平下對(duì)細(xì)胞進(jìn)行定量測(cè)量。
Copyright? 2013-2024 天津西納智能科技有限公司 版權(quán)所有
電話:400-9619-005
傳真:400-9619-005
聯(lián)系人:余子豪 400-9619-005
郵箱:sales@e-xina.com
地址:天津市和平區(qū)南京路235號(hào)河川大廈A座22D
掃描微信二維碼關(guān)注我們