DICON EXFO可變背向反射器OSICS BKR

EXFO的OSICS BKR可模擬光纖系統(tǒng)內所有光接口上的反射率。它可在研發(fā)中作為良好的工具來測試背向反射對應答器原型造成的影響，以及在PON/WDM系統(tǒng)中對發(fā)射器和接收器進行壓力測試。

• 55 dB反射范圍
• OSICS BKR模塊集成有可變反射器，它可設置為3至55 dB，并在很大的波長范圍內工作。其大反射范圍使您能夠采用單臺儀表涵蓋任何設置。
• 輕松的實時操作
• 平臺用戶友好的界面可用于實時調整反射率。每個模塊反射率都可以隨時在OSICS前面板顯示屏上讀取。
• OSICS平臺內的單插槽模塊
• OSICS具備多種功能，包括遠程命令、可容納多達8個模塊（包括DFB）、高性能可調諧激光光源和光開關。

• 反射率范圍：最高55 dB
• 校準范圍：在1310 nm和1550 nm處最高40 dB
• 反射率精度（典型值）：±0.3 dB
• 插損（IL）：≤ 4 dB（3 dB，典型值）
• 反射設置分辨率：0.1 dB（顯示分辨率：0.01 dB）
• 偏振相關損耗:0.2 dB
• 速度:0.1秒/3 dB（典型值）
• 最大輸入功率：0.2 W（+23 dBm）